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SN74BCT8240ADW
| EXSHINE Modelo do Produto: | EX-SN74BCT8240ADW |
|---|---|
| Fabricante Modelo do Produto: | SN74BCT8240ADW |
| Fabricante / Marca: | Texas Instruments |
| Descrição breve: | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
| Status sem chumbo / Status RoHS: | Sem chumbo / acordo com RoHS |
| Condição: | New and unused, Original |
| Download da Ficha Técnica: | SN74BCT8240ADW |
| Inscrição: | - |
| Peso: | - |
| Substituição Alternativa: | - |
Disponibilidade em tempo real de
SN74BCT8240ADW
Em estoque: 47790 pcs pode enviar em 1-2 dias.
Estoque futuro: 12000 pcs em 7-10 dias.
Tempo de espera do fabricante: 8-10 semanas
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Tempo de espera do fabricante: 8-10 semanas
- Descrição
- Forma de pagamento
- Remessa
- Embalagem
Parâmetro do produto
| Tensão de alimentação | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Embalagem do dispositivo fornecedor | 24-SOIC |
| Série | 74BCT |
| Embalagem | Tube |
| Caixa / Gabinete | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Outros nomes | 296-33846-5 SN74BCT8240ADW-ND SN74BCT8240ADWE4 SN74BCT8240ADWE4-ND SN74BCT8240ADWG4 SN74BCT8240ADWG4-ND |
| Temperatura de operação | 0°C ~ 70°C |
| Número de bits | 8 |
| Tipo de montagem | Surface Mount |
| Nível de Sensibilidade à Humidade (MSL) | 1 (Unlimited) |
| Tempo de entrega padrão do fabricante | 6 Weeks |
| Número de peça do fabricante | SN74BCT8240ADW |
| Tipo de lógica | Scan Test Device with Inverting Buffers |
| Descrição expandida | Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC |
| Descrição | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
Outras
| Pacote padrão | 25 |
|---|---|
| Outros nomes | 296-33846-5 SN74BCT8240ADW-ND SN74BCT8240ADWE4 SN74BCT8240ADWE4-ND SN74BCT8240ADWG4 SN74BCT8240ADWG4-ND |
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